संरचना | परिरक्षित |
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स्थापना | श्रीमती |
इंडेक्टर मूल्य | निश्चित इंडक्टर |
आपरेटिंग तापमान | -40 ℃ - + 125 ℃ |
भंडारण तापमान | -40 ℃ - + 125 ℃ |
परीक्षण आवृत्ति | 100KHz, 1V |
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इंडक्शन रेंज | ३.३ यूएच से १०० यूएच |
सहिष्णुता | ± 10%, ± 20% |
वर्तमान | 40A तक |
तार | फ्लैट तांबे का तार |
वर्तमान श्रृंखला | 7 ए से 45 ए |
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इंडक्शन रेंज | 3.3uH से 82uH |
स्थापना | श्रीमती |
पैड का आकार | 22.5 * 22mm |
परीक्षण आवृत्ति | 10KHz / 0.1V@25 और |
वर्तमान श्रृंखला | 6 ए से 65 ए |
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इंडक्शन रेंज | 0.2uH से 22uH |
स्थापना | श्रीमती |
पैड का आकार | 13 * 13mm |
परीक्षण आवृत्ति | 10KHz / 0.1V@25 और |
इंडक्शन रेंज | ३.३ यूएच से ३३ यूएच |
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सहिष्णुता | ± 10%, ± 20% |
परीक्षण आवृत्ति | 100KHz, 1V |
वर्तमान | 93.6A तक |
तार | फ्लैट तांबे का तार |
वर्तमान श्रृंखला | 10 ए से 25 ए |
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इंडक्शन रेंज | 1uH से 10uH |
स्थापना | श्रीमती |
पैड का आकार | 10 * 10 मिमी |
परीक्षण आवृत्ति | 10KHz / 0.1V@25 और |
स्थूल आवृत्ति | 1KHz, 0.25V |
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इंडक्शन रेंज | 680uH तक |
वर्तमान श्रृंखला | 10A तक |
वर्किंग आवृत्ति | उच्च आवृत्ति |
आपरेटिंग तापमान | -40 ℃ - + 105 ℃ |
तार | फ्लैट तांबे का तार |
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इंडक्शन रेंज | 1.0uH से 6.8uH |
परीक्षण आवृत्ति | 100KHz, 1V |
सहिष्णुता | ± 20%, ± 30% |
आपरेटिंग तापमान | -40 ℃ - + 105 ℃ |
वर्तमान श्रृंखला | 10 ए से 25 ए |
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इंडक्शन रेंज | 1uH से 10uH |
स्थापना | श्रीमती |
पैड का आकार | 10 * 10 मिमी |
परीक्षण आवृत्ति | 10KHz / 0.1V@25 और |
वर्तमान श्रृंखला | 14 ए से 35 ए |
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इंडक्शन रेंज | 22nH से 120nH |
स्थापना | श्रीमती |
पैड का आकार | 7.0 * 4.0 मिमी |
परीक्षण आवृत्ति | 100KHz / 0.1V@25 (22MM के लिए 1MHz / 0.1V) |